接近35年的服務國際公司,ECS,Inc.國際的人員將有望繼續(xù)發(fā)展和領導作為全球電子領域的主要來源。“通過與班上最好的合作,成為向電信工業(yè),實用,航海,汽車,RFID,航空航天和醫(yī)療(非生命支持)行業(yè)提供創(chuàng)新,先進的頻率控制組件解決方案的市場領導者石英晶體/濾波器,時鐘振蕩器,陶瓷諧振器/濾波器和所有其他壓電產(chǎn)品的制造。憑借這些特性,ECS,Inc.已經(jīng)與北美頂尖的財富100強企業(yè)建立了合作關系,ECS,Inc.國際的成功取得了強勁的市場研究,合作伙伴創(chuàng)新和客戶合作伙伴關系的支撐。
公司的頂尖人才和技術,配合創(chuàng)新的產(chǎn)品開發(fā)理念,可能在設計需要精確計時的復雜應用程序時解決復雜的客戶問題。這些制造地點在ECS公司的質(zhì)量保證標準中占有最大份額,這些制造地點和大多數(shù)韓國。嚴格的質(zhì)量管理認證從國際標準化組織ISO 9001/2008,ISOTS 16949,ISO 14001和符合AECQ標準的產(chǎn)品開始。
ECS晶體,貼片晶振,ECX-31B晶振.普通石英晶振,外觀完全使用金屬材料封裝的,產(chǎn)品本身采用全自動石英晶體檢測儀,以及跌落,漏氣等苛刻實驗.產(chǎn)品本身具有高穩(wěn)定性,高可靠性的石英晶體諧振器,焊接方面支持表面貼裝,外觀采用金屬封裝,具有充分的密封性能,晶振本身能確保其高可靠性,采用編帶包裝,可對應產(chǎn)品應用到自動貼片機告訴安裝,滿足無鉛焊接的高溫回流溫度曲線要求.
ECS石英晶振多層、多金屬的濺射鍍膜技術:是目前研發(fā)及生產(chǎn)高精度、高穩(wěn)定性石英晶體元器件——石英晶振必須攻克的關鍵技術之一。石英晶振該選用何鍍材、鍍幾種材料、幾種鍍材的鍍膜順序,鍍膜的工藝方法(如各鍍材的功率設計等)。使用此鍍膜方法使鍍膜后的晶振附著力增強,貼片晶振頻率更加集中,能控制在最小ppm之內(nèi)。
單位 |
ECX-31B晶振 |
石英晶振基本條件 |
|
標準頻率 |
f_nom |
32.768KHz |
標準頻率 |
儲存溫度 |
T_stg |
-55°C~+125°C |
裸存 |
工作溫度 |
T_use |
-40°C~+85°C |
標準溫度 |
激勵功率 |
DL |
0.1μW Max. |
推薦:0.1μW |
頻率公差 |
f_— l |
±20 × 10-6(標準) |
+25°C 對于超出標準的規(guī)格說明, |
頻率溫度特征 |
f_tem |
±20 × 10-6/-40°C~+85°C |
超出標準的規(guī)格請聯(lián)系我們. |
負載電容 |
CL |
12.5pF |
不同負載要求,請聯(lián)系我們. |
串聯(lián)電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C~+85°C,DL = 1.0μW |
頻率老化 |
f_age |
±3× 10-6/ year Max. |
+25°C,第一年 |
清洗
關于一般清洗液的使用以及超聲波清洗沒有問題,但這僅僅是對單個石英晶體產(chǎn)品進行試驗所得的結(jié)果,因此請根據(jù)實際使用狀態(tài)進行確認。由于音叉型晶體諧振器的頻率范圍和超聲波清洗機的清洗頻率很近,容易受到共振破壞,因此請盡可能避免超聲波清洗。若要進行超聲波清洗,必須事先根據(jù)實際使用狀態(tài)進行確認。
撞擊
雖然石英晶體諧振器產(chǎn)品在設計階段已經(jīng)考慮到其耐撞擊性,但如果掉到地板上或者受到過度的撞擊,以防萬一還是要檢查特性后再使用。
裝載
SMD晶體產(chǎn)品支持自動貼裝,但還是請預先基于所使用的搭載機實施搭載測試,確認其對特性沒有影響。 在切斷工序等會導致基板發(fā)生翹曲的工序中,請注意避免翹曲影響到產(chǎn)品的特性以及軟焊。 基于超聲波焊接的貼裝以及加工會使得貼片晶體產(chǎn)品(諧振器、振蕩器、濾波器)內(nèi)部傳播過大的振動,有可能導致特性老化以及引起不振蕩,因此不推薦使 用。
<引線類型產(chǎn)品>
當引線彎折、成型以及貼裝到印制電路板時,請注意避免對基座玻璃部分施加壓力。否則有可能導致玻璃出現(xiàn)裂痕,從而引起性能劣化。
保管
保管在高溫多濕的場所可能會導致端子軟焊性的老化。請在沒有直射陽光,不發(fā)生結(jié)露的場所保管。
輸出波形與測試電路
1.時序表
2.測試條件
(1)電源電壓
超過 150µs,直到電壓級別從 0 %達到 90 % 。
電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。
(2)其他
輸入電容低于 15 pF
5倍頻率范圍或更多測量頻率。
鉛探頭應盡可能短。
測量頻率時,探頭阻抗將高于 1MΩ。當波形經(jīng)過振蕩器的放大器時,可同時進行測量。
(3)其他
CL包含探頭電容。
應使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。
使用微型插槽,以觀察波形。
(請勿使用該探頭的長接地線。)
3.測試電路