Pletronics晶振,3225貼片振蕩器,LV44F晶振
頻率:13.500MHz~170.000MHz
尺寸:3.2*2.5*1.0mm
Pletronics晶振公司成立于1979年,有30多年的工程和制造經(jīng)驗,一流質(zhì)量的聲譽——一流的oem和CEMs供應(yīng)商的首選供應(yīng)商??焖夙憫?yīng)——對工程和銷售咨詢的當日響應(yīng),亞洲、歐洲和北美的制造業(yè),國際工程、物流和銷售支持,設(shè)計創(chuàng)新的記錄,有競爭力的價格和更短的交貨期。我們的目標是能夠在切割貼片晶振上制造超過300MHz的基本模式,開始制造PECL和LVDS振蕩器。
Pletronics晶振致力于環(huán)境保護,包括預(yù)防污染.在石英晶體振蕩器,有源晶振產(chǎn)品的規(guī)劃到制造、運行維修等整個過程中,努力提供環(huán)保型的產(chǎn)品和服務(wù).在業(yè)務(wù)活動中,努力節(jié)約資源并節(jié)省能源,致力于減少廢棄物和再生資源的回收利用.在積極公開有關(guān)環(huán)境的信息的同時,通過支持環(huán)?;顒?廣泛地為社會作貢獻.致力于保護生物多樣性和可持續(xù)利用.3225差分有源晶振,LVDS石英晶體振蕩器,LV44F晶振
Pletronics晶振,3225貼片振蕩器,LV44F晶振.3.2*2.5mm六腳金屬面SMD型石英晶體振蕩器,采用LVDS差分輸出方式,標準電源電壓是+2.5V,編帶包裝方式,可對應(yīng)自動高速貼片機自動焊接,及IR回流焊接(無鉛對應(yīng)),為無鉛產(chǎn)品,超小型,質(zhì)地輕.已實現(xiàn)低相位噪聲,低電壓,低消費電流和高穩(wěn)定度,產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用到集成電路,程控交換系統(tǒng),無線發(fā)射基站.
Pletronics晶振高精密點膠技術(shù):石英晶振晶片膠點的位置、大小:位置準確度以及膠點大小一致性,通過圖像識別及高精密度數(shù)字定位系統(tǒng)的運用、使石英晶振晶片的點膠的精度在±0.02mm之內(nèi)。將被上銀電極的晶片裝在彈簧支架上,點上導(dǎo)電膠,并高溫固化,通過彈簧即可引出電信號。
Pletronics晶振 |
標示 |
LV44F晶振 |
晶振基本信息對照表 |
標準范圍 |
f0 |
13.500MHz~170.000MHz |
|
電源電圧 |
Vcc |
+3.3V |
|
輸出電流 |
Icc |
3.5 mA max. |
Vcc=3.3V |
頻率負載 |
L_CMOS |
15pF |
LVDS出力 |
標準頻率偏差 |
f_tol |
±20、±25、±50×10-6 max.
|
初期偏差、 |
輸出電壓 |
V |
VOH:Vcc×90% min.VOL:Vcc×10% max. |
|
對稱 |
SYM |
40%~60% |
50% Vcc |
標準時間 |
tr/tf |
12 ns max.(1.8~80MHz) |
10%Vcc~90%、L_CMOS=15pF |
抗沖擊
有源貼片晶振可能會在某些條件下受到損壞。例如從桌上跌落或在貼裝過程中受到?jīng)_擊。如果產(chǎn)品已受過沖擊請勿使用。
輻射
暴露于輻射環(huán)境會導(dǎo)致石英晶體性能受到損害,因此應(yīng)避免照射。3225差分有源晶振,LVDS石英晶體振蕩器,LV44F晶振
化學制劑 / pH值環(huán)境
請勿在PH值范圍可能導(dǎo)致腐蝕或溶解進口石英晶體振蕩器或包裝材料的環(huán)境下使用或儲藏這些產(chǎn)品。
粘合劑
請勿使用可能導(dǎo)致SMD晶振所用的封裝材料,終端,組件,玻璃材料以及氣相沉積材料等受到腐蝕的膠粘劑。 (比如,氯基膠粘劑可能腐蝕一個晶體單元的金屬“蓋”,從而破壞密封質(zhì)量,降低性能。)
鹵化合物
請勿在鹵素氣體環(huán)境下使用無源晶振。即使少量的鹵素氣體,比如在空氣中的氯氣內(nèi)或封裝所用金屬部件內(nèi),都可能產(chǎn)生腐蝕。同時,請勿使用任何會釋放出鹵素氣體的樹脂。Pletronics晶振,3225貼片振蕩器,LV44F晶振
靜電
過高的靜電可能會損壞有源晶體,請注意抗靜電條件。請為容器和封裝材料選擇導(dǎo)電材料。在處理的時候,請使用電焊槍和無高電壓泄漏的測量電路,并進行接地操作。
振蕩電路的檢查方法
振蕩頻率測量
必須盡可能地測量安裝在電路上的貼片有源晶振的振蕩頻率的真實值,
使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中,通常使用探頭和頻率計數(shù)器。然而,
我們的目標是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。3225差分有源晶振,LVDS石英晶體振蕩器,LV44F晶振
有三種頻率測量模式,如下面的圖所示(圖)。2, 3和4)。最
精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實現(xiàn)的。
接觸振蕩電路。
探針不影響圖2,因為緩沖器的輸出是通過輸入振蕩電路的輸出來測量的。
逆變器進入下一階段。
探針不影響圖3,因為在IC上測量緩沖器輸出(1/1、1/2等)。
圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況,由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。
輸出點之間的電容(3 pF以下XTAL終端IC)和探針。
然而,應(yīng)該注意到,使用這種方法3225有源晶體振蕩器輸出波形較小,測量不能依賴于
即使示波器能檢查振蕩波形,頻率計數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下,使用放大器來測量。Pletronics晶振,3225貼片振蕩器,LV44F晶振
此外,振蕩頻率與測量點不同。
1。測量緩沖輸出
2。振蕩級輸出測量
三.通過電容器測量振蕩級輸出
圖5示出以上1-3個測量點和所測量的
除緩沖器輸出外,振蕩頻率較低。
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