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大河晶振,貼片晶振,FCX-08晶振,進(jìn)口SMD晶振

頻率：32~80MHZ

尺寸：1.2*1.0mm

1210mm體積的晶振,可以說(shuō)是目前小型數(shù)碼產(chǎn)品的福音,目前超小型的智能手機(jī)里面所應(yīng)用的就是小型的石英晶振,該產(chǎn)品最適用于無(wú)線通訊系統(tǒng),無(wú)線局域網(wǎng),已實(shí)現(xiàn)低相位噪聲,低電壓,低消費(fèi)電流和高穩(wěn)定度,超小型,質(zhì)量輕等產(chǎn)品特點(diǎn),產(chǎn)品本身編帶包裝方式,可對(duì)應(yīng)自動(dòng)高速貼片機(jī)應(yīng)用,以及高溫回流焊接（產(chǎn)品無(wú)鉛對(duì)應(yīng)）,為無(wú)鉛產(chǎn)品.

訂購(gòu)熱線：0755-27837162

河エレテック，石英晶振，石英振蕩器為中心的電子設(shè)備制造商。自1949年開始抵抗器的制造以來(lái)，本公司一貫致力于充滿魅力的裝置的開發(fā)，以獲得更高的客戶滿足的目標(biāo)。在持續(xù)每天進(jìn)化的電子機(jī)器業(yè)界中，企業(yè)持續(xù)成長(zhǎng)是不容易的事，不過(guò)，總是以自己的雙手為自己的手創(chuàng)造下一代的企業(yè)的想法，更強(qiáng)烈的職員一個(gè)人滲透著。此外，在推進(jìn)有害物質(zhì)的降低和節(jié)能，推進(jìn)環(huán)境的企業(yè)作為目標(biāo)的努力的是當(dāng)然，在公司治理（企業(yè)統(tǒng)治）和依從（法規(guī)）也重視。1210超小體積晶振,金屬音叉型石英晶振,FCX-08晶振
河エレテック，2014年開始2017年為止的第4次中期經(jīng)營(yíng)計(jì)劃啟動(dòng)了。作為經(jīng)營(yíng)理念，“顧客的滿足與信賴的獲得”、“通過(guò)獨(dú)創(chuàng)的構(gòu)思的價(jià)值的創(chuàng)造”、“事業(yè)結(jié)構(gòu)改革提高收益能力”，將所有的利益都信賴在公司的目標(biāo)。河エレテック的主力產(chǎn)品，水晶使用的電子元件（水晶設(shè)備），銷售額的約90%以上。在水晶裝置上也有幾種類型，本公司生產(chǎn)的是大河貼片晶振和水晶振蕩器。其中業(yè)界獨(dú)有的電子束的氣密封裝工法用橘色的類型（表面安裝型）特化，小型便攜式設(shè)備（手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、手機(jī)游戲等）和近距離無(wú)線通信（藍(lán)牙和無(wú)線LAN等），汽車電子和醫(yī)療機(jī)器等最先進(jìn)的領(lǐng)域集中在穩(wěn)定的收入，確保了。同時(shí)，也作為開發(fā)的概念開發(fā)的概念，在產(chǎn)品的小型化中經(jīng)常領(lǐng)導(dǎo)著業(yè)界的發(fā)展。 JLX-1

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大河晶振,貼片晶振,FCX-08晶振,進(jìn)口SMD晶振,小型貼片石英晶振,外觀尺寸具有薄型表面貼片型石英晶體諧振器,特別適用于有小型化要求的市場(chǎng)領(lǐng)域,比如智能手機(jī),無(wú)線藍(lán)牙,平板電腦等電子數(shù)碼產(chǎn)品.晶振本身超小型,薄型,重量輕,晶體具有優(yōu)良的耐環(huán)境特性,如耐熱性,耐沖擊性,在辦公自動(dòng)化,家電相關(guān)電器領(lǐng)域及Bluetooth,Wireless LAN等短距離無(wú)線通信領(lǐng)域可發(fā)揮優(yōu)良的電氣特性,滿足無(wú)鉛焊接的回流溫度曲線要求.
注意：在石英晶振諧振器晶體測(cè)量中各個(gè)廠家的儀器會(huì)存在一定的差距（誤差），所以應(yīng)對(duì)晶振晶體測(cè)試儀器做特別管制。尤其是小公差產(chǎn)品。目前本公司的標(biāo)準(zhǔn)儀器在品管部。DIP 產(chǎn)品為 250A，SMD產(chǎn)品為 250B。品管部應(yīng)對(duì)公司內(nèi)每臺(tái)單機(jī)每個(gè)月進(jìn)行一次校對(duì)。自動(dòng)測(cè)試機(jī)用平移法進(jìn)行測(cè)試。同時(shí)保留和記錄與不同客戶之間的誤差。在生產(chǎn)中用平移法解決。高精度的頻率、電阻的測(cè)量技術(shù)：引進(jìn)一批先進(jìn)的檢測(cè)儀器，準(zhǔn)確度達(dá)到±1ppm（國(guó)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)）。在測(cè)量應(yīng)用上制定一套標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量方法保證測(cè)量的準(zhǔn)確性、儀器的精度、測(cè)試的一致性。如下方面都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果帶來(lái)影響：1、測(cè)試針本身連接的可靠性；2、測(cè)試針同測(cè)試管的連接性；3、測(cè)試板同測(cè)試針的接觸問(wèn)題；4、測(cè)試座同電纜的連接；5、小負(fù)載的規(guī)格測(cè)量的規(guī)定；6、測(cè)試板π頭上空測(cè)其C0值(保留3位以上小數(shù))；7、測(cè)量環(huán)境、操作方法等管制。1210超小體積晶振,金屬音叉型石英晶振,FCX-08晶振 JLX-2

大河晶振	單位	FCX-08晶振	石英晶振基本條件
標(biāo)準(zhǔn)頻率	f_nom	32.000MHZ~80.000MHZ	標(biāo)準(zhǔn)頻率
儲(chǔ)存溫度	T_stg	-40°C ～ +125°C	裸存
工作溫度	T_use	-20°C ～ +125°C	標(biāo)準(zhǔn)溫度
激勵(lì)功率	DL	200μW Max.	推薦:1μW ～ 100μW
頻率公差	f_— l	±7ppm~±50ppm	+25°C 對(duì)于超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格說(shuō)明, 請(qǐng)聯(lián)系我們以便獲取相關(guān)的信息,http://www.upap-pt.com/
頻率溫度特征	f_tem	±50 × 10-6	超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格請(qǐng)聯(lián)系我們.
負(fù)載電容	CL	5pF、6pF、7pF	不同負(fù)載電容要求,請(qǐng)聯(lián)系我們.
串聯(lián)電阻(ESR)	R1	如下表所示	-40°C — +85°C, DL = 100μW
頻率老化	f_age	±5 × 10-6 / year Max.	+25°C,第一年

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FCX-08_1.2_1.0 JLX-4

請(qǐng)測(cè)量使用示波器或頻率計(jì)數(shù)器石英貼片晶振的兩個(gè)端子的信號(hào)，如果頻率不在規(guī)定范圍內(nèi)，它的輸出波形的幅度是不夠的（例如超過(guò)+/-200ppm的）如果由頻率計(jì)數(shù)器測(cè)量的頻率比目標(biāo)頻率高，要增加石英晶振的電容（CL，或Cd以及C 8）的值，以降低頻率到目標(biāo)頻率，反之亦然。請(qǐng)檢查波形幅度是否改善或沒(méi)有經(jīng)過(guò)我們調(diào)整頻率。如果它的改善，這表示該電路的原始設(shè)計(jì)不是調(diào)諧到最佳共振點(diǎn)為晶體的情況。該晶振應(yīng)正常后，諧振點(diǎn)的調(diào)整。大河晶振,貼片晶振,FCX-08晶振,進(jìn)口SMD晶振

如果波形幅度甚至沒(méi)有提高的頻率非常接近目標(biāo)頻率，我們可以通過(guò)以下三種方法改進(jìn)：方法1：降低產(chǎn)品線路外部電容（Cd和CG）的值，并通過(guò)SMD晶振具有較低負(fù)載電容（CL）。方法2：采用小電阻（RR）的晶體。方法3：使用鎘和CG的不等價(jià)的設(shè)計(jì)。
我們可以增加鎘（XOUT）的負(fù)載電容和降低CG（辛）的負(fù)載電容以提高從辛波形幅度將在其后端電路中使用的輸出。我們建議您使用上面的方法來(lái)無(wú)源貼片晶振節(jié)省成本，保證安全。請(qǐng)用頻率計(jì)數(shù)器來(lái)測(cè)量所述晶體，以確保經(jīng)調(diào)整頻率仍然滿足原說(shuō)明書后的波形的振幅進(jìn)行了改進(jìn)。如果頻率不符合規(guī)格，請(qǐng)采用晶體合適的CL值為根據(jù)您的目標(biāo)頻率。請(qǐng)采用晶振具有較低的CL如果頻率比目標(biāo)頻率，反之亦然高得多系統(tǒng)不能正常工作，由于輸出頻率會(huì)偏差很大。1210超小體積晶振,金屬音叉型石英晶振,FCX-08晶振 JLX-5

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振蕩電路：1210晶體諧振器是最小貼片晶振，因此受到電源電壓、環(huán)境溫度、電路的影響。配置、電路常數(shù)和襯底布線模式等操作大致分為正常運(yùn)行和異常運(yùn)行。因此，在振蕩電路的設(shè)計(jì)中，先決條件之一是如何確定振蕩電路。晶體諧振器的振動(dòng)安全穩(wěn)定。只有在做出了這個(gè)決定之后，后續(xù)的項(xiàng)目，例如討論了頻率精度、頻率變化、調(diào)制度、振蕩起始時(shí)間和振蕩波形。大河晶振,貼片晶振,FCX-08晶振,進(jìn)口SMD晶振

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振蕩頻率測(cè)量：必須盡可能地測(cè)量安裝小體積無(wú)源晶振在電路上的諧振器的振蕩頻率的真實(shí)值，使用正確的方法。在振蕩頻率的測(cè)量中，通常使用探頭和頻率計(jì)數(shù)器。然而,我們的目標(biāo)是通過(guò)限制測(cè)量工具對(duì)振蕩電路本身的影響來(lái)測(cè)量。有三種頻率測(cè)量模式，如下面的圖所示（圖）。2, 3和4）。最精確的測(cè)量方法是通過(guò)使用任何能夠精確測(cè)量的頻譜分析儀來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

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測(cè)試條件：(1) 電源電壓? 超過(guò) 150µs，直到電壓級(jí)別從 0 %達(dá)到 90 % 。? 電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。
(2) 其他：? 輸入電容低于 15 pF? 5倍頻率范圍或更多測(cè)量頻率。? 鉛探頭應(yīng)盡可能短。? 測(cè)量小體積石英晶體頻率時(shí)，探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過(guò)振蕩器的放大器時(shí)，可同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。(3) 其他：? CL包含探頭電容。? 應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。? 使用微型插槽，以觀察波形。（請(qǐng)勿使用該探頭的長(zhǎng)接地線。）

世界級(jí)小型貼片晶體驅(qū)動(dòng)能力：驅(qū)動(dòng)能力說(shuō)明振蕩晶體單元所需電功率，其計(jì)算公式如下：驅(qū)動(dòng)能力 (P) = i2?Re其中i表示經(jīng)過(guò)晶體單元的電流，Re表示晶體單元的有效電阻，而且 Re=R1（1+Co/CL）2。

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