西鐵城晶振,貼片晶振,CS325H-44.000MEDQ-UT晶振
頻率:13~54MHZ
尺寸:3.2*2.5*0.55mm
西鐵城精密裝置發(fā)揮能力的領(lǐng)域是,小型精密高精度?高精度被要求的功能零部件領(lǐng)域。并且,通過(guò)多年建立的獨(dú)自的技術(shù),不斷地提供高附加價(jià)值的微設(shè)備產(chǎn)品。利用時(shí)鐘晶振的制作的小型精密零部件的金屬加工技術(shù),從工程設(shè)計(jì)到加工、組裝、功能測(cè)試過(guò)程中的生產(chǎn)線(xiàn)和本公司制造加工機(jī)的獨(dú)自開(kāi)發(fā),長(zhǎng)期供給著小型、高精度的零部件同時(shí),在使用高精度材料的高精度中,效率很好地量產(chǎn)零部件的事也是本公司獨(dú)自的核心技術(shù)。在材料技術(shù)和超精密加工技術(shù),薄膜技術(shù),連接技術(shù),組裝技術(shù)等,使石英和水晶等高精度零部件,產(chǎn)生了液晶裝置,傳感裝置等高質(zhì)量的功能器件產(chǎn)品。特別是,L - COS(Liquid crystal on silicon)采用了鐵電液晶顯示器,已經(jīng)微高品位相機(jī)配備到前進(jìn)了很高的評(píng)價(jià)。今后的車(chē)載顯示屏和頭部顯示屏等的次世代顯示器系統(tǒng)搭載的可能性很大。
2009年度,根據(jù)環(huán)境管理體系中的規(guī)定,西鐵城晶振集團(tuán)在其日本國(guó)內(nèi)的所有事業(yè)所和海外的所有生產(chǎn)基地中,建立了西鐵城晶振,貼片石英晶體,石英晶體諧振器,西鐵城振蕩子綠色經(jīng)營(yíng)活動(dòng)的框架,通過(guò)共享與綠色經(jīng)營(yíng)有關(guān)的信息,致力于開(kāi)展有效的和實(shí)際效果大的環(huán)?;顒?dòng),并強(qiáng)化企業(yè)的管治能力.2006年度,西鐵城晶振在國(guó)內(nèi)外的所有生產(chǎn)據(jù)點(diǎn)以及國(guó)內(nèi)的非生產(chǎn)據(jù)點(diǎn)——西鐵城制作所總公司、東京分公司、營(yíng)業(yè)所,均取得了ISO14001認(rèn)證.此后,西鐵城石英晶振努力開(kāi)展體系整合,并于2007年3月在國(guó)內(nèi)集團(tuán)的34個(gè)據(jù)點(diǎn)完成了向ISO14001多站認(rèn)證的轉(zhuǎn)變.3225SMD石英晶振,CS325H晶振,CS325H-44.000MEDQ-UT晶振
西鐵城晶振,貼片晶振,CS325H-44.000MEDQ-UT晶振,3225mm體積貼片晶振適用于汽車(chē)電子領(lǐng)域的表面貼片型石英晶振,本產(chǎn)品已被確定的高信賴(lài)性最適合用于汽車(chē)電子部件,晶體在極端嚴(yán)酷的環(huán)境條件下也能發(fā)揮穩(wěn)定的起振特性,晶振本身具有耐熱,耐振,耐沖擊等優(yōu)良的耐環(huán)境特性,滿(mǎn)足無(wú)鉛焊接的高溫回流溫度曲線(xiàn)要求,符合AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn).
石英晶振的研磨技術(shù):通過(guò)對(duì)晶振切割整形后的晶片進(jìn)行研磨,使石英晶振的晶片達(dá)到(厚度/頻率)的一定范圍。進(jìn)口石英晶振晶片厚度與頻率的關(guān)系為:在壓電晶體行業(yè),生產(chǎn)晶振頻率的高低是顯示鴻星技術(shù)水平的一個(gè)方面,通過(guò)理論與實(shí)際相結(jié)合,累積多年的晶振研磨經(jīng)驗(yàn),通過(guò)深入細(xì)致地完善石英晶振研磨工藝技術(shù),注重貼片晶振研磨過(guò)程的各種細(xì)節(jié),注重晶振所用精磨研磨設(shè)備的選擇;注重所使用水晶、研磨砂的選擇等;注重石英晶振研磨用工裝如:游輪的設(shè)計(jì)及選擇,從而使研磨晶振晶片在平面度、平行度、彎曲度都有很好的控制,最終使可研磨的石英晶振晶片的厚度越來(lái)越薄,貼片晶振晶片的頻率越來(lái)越高,為公司在高頻石英晶振的研發(fā)生產(chǎn)打下堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ),提升了晶振廠家的競(jìng)爭(zhēng)力,使晶振廠家高頻石英晶振的研發(fā)及生產(chǎn)領(lǐng)先于國(guó)內(nèi)其它公司。3225SMD石英晶振,CS325H晶振,CS325H-44.000MEDQ-UT晶振
西鐵城晶振 |
單位 |
石英晶振基本條件 |
|
標(biāo)準(zhǔn)頻率 |
f_nom |
13~54MHz |
標(biāo)準(zhǔn)頻率 |
儲(chǔ)存溫度 |
T_stg |
-55°C~+125°C |
裸存 |
工作溫度 |
T_use |
-40°C~+85°C |
標(biāo)準(zhǔn)溫度 |
激勵(lì)功率 |
DL |
10~100μW Max. |
推薦:10~100μW |
頻率公差 |
f_— l |
±10× 10-6 (標(biāo)準(zhǔn)) |
+25°C 對(duì)于超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格說(shuō)明, |
頻率溫度特征 |
f_tem |
±20× 10-6/-40°C~+85°C |
超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格請(qǐng)聯(lián)系我們. |
負(fù)載電容 |
CL |
16,18pF |
不同負(fù)載要求,請(qǐng)聯(lián)系我們. |
串聯(lián)電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C ~ +85°C, DL =1.0μW |
頻率老化 |
f_age |
±1× 10-6 /year Max. |
+25°C,第一年 |
一般來(lái)說(shuō),微處理器的振蕩電路由考畢茲電路顯示派生如下:鎘和CG是外部負(fù)載電容,其中已建成的芯片組。 (請(qǐng)參閱芯片組的規(guī)格)Rf為具有200KΩ?1MΩ反饋電阻。它的內(nèi)置芯片一般設(shè)置。Rd為限流電阻470Ω與1KΩ?。這個(gè)阻力是沒(méi)有必要的公共電路,但僅用于具有高電源電路。一個(gè)穩(wěn)定的振蕩電路需要的負(fù)電阻,其值應(yīng)是3225晶振阻力的至少五倍。它可寫(xiě)為|-R|>5的Rr。例如,為了獲得穩(wěn)定的振蕩電路中,IC的負(fù)電阻的值必須小于?200Ω時(shí)的晶振電阻值是40Ω。負(fù)阻“的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)評(píng)估一個(gè)振蕩電路的質(zhì)量。在某些情況下,例如老化,熱變化,電壓變化,以及等等,電路可能不會(huì)產(chǎn)生振蕩的“Q”值是低的。因此,這是非常重要的衡量負(fù)電阻(-R)以下說(shuō)明:線(xiàn)路連接的電阻(R)與晶體串聯(lián),西鐵城晶振,貼片晶振,CS325H-44.000MEDQ-UT晶振
(2)從起點(diǎn)到振蕩的停止點(diǎn)調(diào)整R的值。(3)振蕩期間測(cè)量R的值。(4)你將能夠獲得負(fù)電阻的值,|•R|= R +的Rr,和RR =晶振的阻力。附:所連接的電路的雜散電容,可能會(huì)影響測(cè)定值。如果無(wú)源晶振的參數(shù)是正常的,但它不工作穩(wěn)步振蕩電路中,我們將不得不找出IC的電阻值是否過(guò)低驅(qū)動(dòng)電路。如果是這樣的話(huà),我們有三種方法來(lái)改善這樣的情況:降低外部電容(Cd和CG)的值,并采用其他晶振具有較低負(fù)載電容(CL)。3225SMD石英晶振,CS325H晶振,CS325H-44.000MEDQ-UT晶振
采用具有較低電阻(RR)的晶振。使用光盤(pán)和CG的不等價(jià)的設(shè)計(jì)。我們可以增加鎘(XOUT)的負(fù)載電容和降低CG(辛)的負(fù)載電容以提高從辛波形幅度將在其后端電路中使用的輸出。當(dāng)有信號(hào)輸出從XOUT但不辛,其表示后面的功耗的情況下 - 電極后端電路是極其巨大的。我們可以添加一個(gè)緩沖電路的輸出和它的后電極之間,以驅(qū)動(dòng)后端電路。但1-5的方法上面提到的,你也可以按照步驟1-4-4的三種方法。如有不明白請(qǐng)聯(lián)系我公司SMD石英晶振的應(yīng)用工程師和IC制造商尋求進(jìn)一步的幫助,如果你的問(wèn)題不能得到解決。系統(tǒng)無(wú)法運(yùn)行,因?yàn)榫w沒(méi)有足夠的輸出波形振幅。
此外,進(jìn)口3225貼片晶振振蕩頻率與測(cè)量點(diǎn)不同。1。測(cè)量緩沖輸出2。振蕩級(jí)輸出測(cè)量三.通過(guò)電容器測(cè)量振蕩級(jí)輸出圖5示出以上1-3個(gè)測(cè)量點(diǎn)和所測(cè)量的除緩沖器輸出外,振蕩頻率較低。西鐵城晶振,貼片晶振,CS325H-44.000MEDQ-UT晶振
振蕩頻率測(cè)量:必須盡可能地測(cè)量安裝在電路上的諧振器的振蕩頻率的真實(shí)值,3225四腳無(wú)源晶振使用正確的方法。在振蕩頻率的測(cè)量中,通常使用探頭和頻率計(jì)數(shù)器。然而,我們的目標(biāo)是通過(guò)限制測(cè)量工具對(duì)振蕩電路本身的影響來(lái)測(cè)量。有三種頻率測(cè)量模式,如下面的圖所示(圖)。2, 3和4)。最精確的測(cè)量方法是通過(guò)使用任何能夠精確測(cè)量的頻譜分析儀來(lái)實(shí)現(xiàn)的。接觸振蕩電路。
探針不影響圖2,因?yàn)榫彌_器的輸出是通過(guò)麥克風(fēng)SMD晶振輸入振蕩電路的輸出來(lái)測(cè)量的。逆變器進(jìn)入下一階段。探針不影響圖3,因?yàn)樵贗C上測(cè)量緩沖器輸出(1/1、1/2等)。圖4示出了來(lái)自ic的無(wú)緩沖器輸出接收的情況,由此通過(guò)小尺寸測(cè)量來(lái)最小化探針的效果。輸出點(diǎn)之間的電容(3 pF以下XTAL終端IC)和探針。然而,應(yīng)該注意到,使用這種方法輸出波形較小,測(cè)量不能依賴(lài)于即使示波器能檢查振蕩波形,頻率計(jì)數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下,使用放大器來(lái)測(cè)量。
負(fù)載電容:如果振蕩電路中負(fù)載電容的不同,可能導(dǎo)致3225mm無(wú)源晶體振蕩頻率與設(shè)計(jì)頻率之間產(chǎn)生偏差,如下圖所示。電路中的負(fù)載電容的近似表達(dá)式 CL≒CG × CD / (CG+CD) + CS。其中CS表示電路的雜散電容。
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