大多數(shù)人只知道日本西鐵城公司是做手表,時(shí)鐘產(chǎn)品類的,其實(shí)西鐵城公司是一個(gè)集團(tuán)公司,公司有很多個(gè)分公司,也生產(chǎn)很多種產(chǎn)品,比如石英晶振系列也是西鐵城的主打產(chǎn)品之一,而且早在2001年就在中國建廠以生產(chǎn)石英晶體表晶32.768K晶振系列為主,當(dāng)然最出名的,深入中國人腦海里的還是西鐵城的鐘表了。CITIZEN西鐵城公司的前身為日本尚工舍時(shí)計(jì)研究所,創(chuàng)立于1918年,主要從事鐘表的開發(fā)和制造,在1924年制造出第一只懷表。西鐵城鐘表株式會(huì)社成立于1930年,在第二年(1931年)生產(chǎn)出第一只西鐵城牌手表。截止2010年底,已發(fā)展為以鐘表為主業(yè),多種經(jīng)營的集團(tuán)性跨國大公司,年銷售額約三十八億美元。西鐵城自成立以來,一直在鐘表行業(yè)處于領(lǐng)先地位,創(chuàng)造了諸多世界第一。
西鐵城在音叉水晶表晶振動(dòng)子(石英晶振)這一領(lǐng)域也是遙遙領(lǐng)先的,與日本元器件品牌愛普生晶振,日本精工晶振seiko,日本大真空KDS晶振,日本西鐵城石英晶振murata,并稱世界日產(chǎn)五大品牌。對于西鐵城晶振動(dòng)子,其要求相比其他各大品牌,工藝也是非常之嚴(yán)格,工藝上除清洗、被銀、點(diǎn)膠、微調(diào)、中測、封焊、檢漏、老化、測試、打標(biāo)、編帶、包裝等步驟外,選用的設(shè)備儀器其優(yōu)點(diǎn)有先進(jìn)性、功能性、適應(yīng)性和經(jīng)濟(jì)性,西鐵城推出3款適合時(shí)鐘上用的音叉表晶,CFS-308晶振,CFS-206晶振,CFS-145晶振。西鐵城晶振創(chuàng)立于1959年7月28日,當(dāng)時(shí)注冊資金高達(dá)17億多,所做產(chǎn)品涉及領(lǐng)域較廣,自動(dòng)車部品,石英晶振,貼片晶振,石英晶體振蕩器及水晶片,映像用電子機(jī)器,液晶顯示器,光通信用部品,工業(yè)機(jī)械裝置,精密計(jì)測機(jī)械,小型精密金屬加工部件等。
西鐵城晶振,石英晶振,CSA-309晶振,插件石英晶體,插件石英晶振最適合用于比較低端的電子產(chǎn)品,比如兒童玩具,普通家用電器,即使在汽車電子領(lǐng)域中也能使產(chǎn)品高可靠性的使用.并且可用于安全控制裝置的CPU時(shí)鐘信號(hào)發(fā)生源部分,好比時(shí)鐘單片機(jī)上的石英晶振,在極端嚴(yán)酷的環(huán)境條件下,晶振也能正常工作,具有穩(wěn)定的起振特性,高耐熱性,耐熱循環(huán)性和耐振性等的高可靠性能,由于在49/S形晶體諧振器的底部裝了樹脂底座,就可作為產(chǎn)品電氣特性和高可靠性無受損的表面貼片型晶體諧振器使用,滿足無鉛焊接的回流溫度曲線要求.
晶體全自動(dòng)晶片清洗技術(shù): 3.1、石英晶振生產(chǎn)工序主要有晶片清洗、被銀、上架電膠、微調(diào)、封焊、撿漏、印字、老化、測試3.2、石英晶振晶片清洗:清除圓柱音叉表晶晶片表面的污物、油物,以保證被銀電極。被復(fù)良好牢固。清洗間有很多化學(xué)試劑,酒精、異丙醇、硫酸、硝酸、清洗液同時(shí)還有電爐烤箱,在晶振生產(chǎn)過程中應(yīng)注意人身安全和設(shè)備安全。3.3、被銀:用真空鍍膜原理在潔凈的石英晶振晶片上蒸鍍薄銀層,形成引出電極,并使其頻率達(dá)到一定范圍 。★★★ 采用蒸鍍微調(diào): 被銀片頻率應(yīng)滿足 f 0 +(50 至 1000ppm)的要求,★★★采用離子微調(diào):離子微調(diào)被銀片頻率應(yīng)滿足 f 0 -(50 至 1200ppm)。被銀機(jī)(C-461T) 被銀量計(jì)算THK2={4.2156×△f(KHz)÷〔 fo( MHz×f1(MHZ)〕}÷2式中:△f=fo-f1fo: 白片頻率(腐蝕后頻率)f1: 蒸鍍目標(biāo)頻率(晶體標(biāo)稱頻率+1000PPM)被銀機(jī)內(nèi)部使用的標(biāo)準(zhǔn)頻率為 5.000(或 6.000) MHz.
西鐵城晶振 |
單位 |
石英晶振基本條件 |
|
標(biāo)準(zhǔn)頻率 |
f_nom |
3.5~4.0MHz |
標(biāo)準(zhǔn)頻率 |
儲(chǔ)存溫度 |
T_stg |
-40°C~+85°C |
裸存 |
工作溫度 |
T_use |
-20°C~+70°C |
標(biāo)準(zhǔn)溫度 |
激勵(lì)功率 |
DL |
100μW Max. |
推薦:100μW |
頻率公差 |
f_— l |
±30× 10-6(標(biāo)準(zhǔn)) |
+25°C對于超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格說明, |
頻率溫度特征 |
f_tem |
±20× 10-6/-40°C~+85°C |
超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格請聯(lián)系我們. |
負(fù)載電容 |
CL |
16,18pF |
不同負(fù)載要求,請聯(lián)系我們. |
串聯(lián)電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C ~ +85°C,DL =1.0μW |
頻率老化 |
f_age |
±5× 10-6/year Max. |
+25°C,第一年 |
所有產(chǎn)品的共同點(diǎn):1:抗沖擊 抗沖擊是指晶振產(chǎn)品可能會(huì)在某些條件下受到損壞。例如從桌上跌落,摔打,高空拋壓或在貼裝過程中受到?jīng)_擊。如果產(chǎn)品已受過沖擊請勿使用。因?yàn)闊o論何種石英晶振,其內(nèi)部晶片都是無源石英晶振制作而成的,高空跌落摔打都會(huì)給晶振照成不良影響。 2:輻射:將貼片晶振暴露于輻射環(huán)境會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品性能受到損害,因此應(yīng)避免陽光長時(shí)間的照射。 3:化學(xué)制劑 / pH值環(huán)境:請勿在PH值范圍可能導(dǎo)致腐蝕或溶解石英晶振或包裝材料的環(huán)境下使用或儲(chǔ)藏這些產(chǎn)品。西鐵城晶振,石英晶振,CSA-309晶振,插件石英晶體
4:粘合劑:請勿使用可能導(dǎo)致石英晶體諧振器所用的封裝材料,終端,組件,玻璃材料以及氣相沉積材料等受到腐蝕的膠粘劑。(比如,氯基膠粘劑可能腐蝕一個(gè)晶振的金屬“蓋”,從而破壞密封質(zhì)量,降低性能。) 5:鹵化合物:請勿在鹵素氣體環(huán)境下使用晶振。即使少量的鹵素氣體,比如在空氣中的氯氣內(nèi)或封裝所用金屬部件內(nèi),都可能產(chǎn)生腐蝕。同時(shí),請勿使用任何會(huì)釋放出鹵素氣體的樹脂。6:靜電:過高的靜電可能會(huì)損壞貼片晶振,請注意抗靜電條件。請為容器和封裝材料選擇導(dǎo)電材料。在處理的時(shí)候,請使用電焊槍和無高電壓泄漏的測量電路,并進(jìn)行接地操作。
機(jī)械振動(dòng)的影響:當(dāng)晶振產(chǎn)品上存在任何給定沖擊或受到周期性機(jī)械振動(dòng)時(shí),比如:壓電揚(yáng)聲器,壓電蜂鳴器,以及喇叭等,輸出頻率和幅度會(huì)受到影響。這種現(xiàn)象對通信器材通信質(zhì)量有影響。盡管導(dǎo)腳晶振產(chǎn)品設(shè)計(jì)可最小化這種機(jī)械振動(dòng)的影響,我們推薦事先檢查并按照下列安裝指南進(jìn)行操作。
驅(qū)動(dòng)能力:驅(qū)動(dòng)能力說明振蕩晶體單元所需電功率,其計(jì)算公式如下:驅(qū)動(dòng)能力 (P) = i2?Re其中i表示經(jīng)過晶體單元的電流,Re表示圓柱插件晶振單元的有效電阻,而且 Re=R1(1+Co/CL)2。西鐵城晶振,石英晶振,CSA-309晶振,插件石英晶體
測試條件:(1) 電源電壓? 超過 150µs,直到電壓級別從 0 %達(dá)到 90 % 。? 電源電壓阻抗低于電阻 2Ω(2) 其他:? 輸入電容低于 15 pF? 5倍頻率范圍或更多測量頻率。? 鉛探頭應(yīng)盡可能短。? 測量頻率時(shí),探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過車載電子晶振振蕩器的放大器時(shí),可同時(shí)進(jìn)行測量。(3) 其他:? CL包含探頭電容。? 應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。? 使用微型插槽,以觀察波形。(請勿使用該探頭的長接地線)
振蕩頻率測量:必須盡可能地測量安裝在電路上的諧振器的振蕩頻率的真實(shí)值,使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中,通常使用探頭和頻率計(jì)數(shù)器。然而,我們的目標(biāo)是通過進(jìn)口石英柱晶限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。有三種頻率測量模式,如下面的圖所示(圖)。2, 3和4)。最精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實(shí)現(xiàn)的。
接觸振蕩電路:探針不影響圖2,因?yàn)榫彌_器的輸出是通過輸入振蕩電路的輸出來測量的。逆變器進(jìn)入下一階段。探針不影響圖3,因?yàn)樵贗C上測量緩沖器輸出(1/1、1/2等)。圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況,由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。輸出點(diǎn)之間的電容(3 pF以下XTAL終端IC)和探針。然而,應(yīng)該注意到,使用這種方法輸出波形較小,測量不能依賴27M無源石英晶振于即使示波器能檢查振蕩波形,頻率計(jì)數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下,使用放大器來測量。