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恒溫晶振進(jìn)行系統(tǒng)測試的過程方式

來源：金洛鑫瀏覽：- 發(fā)布日期：2018-03-15 18:12:13【大中小】

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大家都知道恒溫晶振是非常高端的有源晶振，基本上都是應(yīng)用在智能醫(yī)療電子、軍事通訊設(shè)備、智能安防、程控交換機(jī)、網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等高科技，高要求產(chǎn)品身上。本身具有低相噪，低功耗，低相位拉動，低電壓等優(yōu)秀特性。看到文章標(biāo)題也許很多人會疑惑，什么是OCXO晶振系列測試，這是本次我重點(diǎn)要說明的內(nèi)容，還有其過程方式。
在進(jìn)行系統(tǒng)測試時,被鎖石英晶振采用金洛鑫電子代理的進(jìn)口高穩(wěn)定度恒溫晶體振蕩器(10MHz±3Hz),GPS接收機(jī)選用Trimble公司生產(chǎn)的LASSEN IQ型,采用Oscilloquartz公司的5585B-PRS型銫原子頻標(biāo)作為頻率參考,該銫原子頻標(biāo)可輸出10MHz信號,具有較好的頻率準(zhǔn)確度及穩(wěn)定度,其頻率準(zhǔn)確度優(yōu)于5×10-12,秒級頻率穩(wěn)定度優(yōu)于1×10-11/s。
采用相位比對的方法來測試被鎖貼片晶振的相對頻率準(zhǔn)確度,測試連接圖如圖5.1所示。將被鎖定的石英晶體振蕩器的10MHz頻率信號和銫原子頻標(biāo)產(chǎn)生的10MHz頻率信號分別作為開關(guān)門信號輸入到精密時間間隔測試儀HP5370B(分辨率為20ps)進(jìn)行比對測試,HP5370B輸出的時間間隔值與兩個比對信號的相位差成正比。該時間間隔值的變化反映了兩個信號的相位差的變化。計算相對頻差的公式為:

其中,τ為取樣周期;△T為在取樣周期τ內(nèi)兩信號累積的相位差變化。由此式可以看出,△T的測量誤差取決于HP5370B的時間間隔測量分辨率,最小為±20ps,也就是在ls閘門時間內(nèi)相對頻率準(zhǔn)確度為±2×10-11,但是隨著采樣時間r的增大,測量誤差可以大大的減小,貼片晶振精度也不斷提高。

由于天氣等原因,對接收機(jī)工作有影響,所以做實驗時適當(dāng)選擇比較好的天氣。取樣時間設(shè)定為40s,OCX0在系統(tǒng)運(yùn)行3小時后即進(jìn)入鎖定狀態(tài),開始對有源晶振鎖定狀態(tài)下與銫原子頻標(biāo)進(jìn)行相位比對測試,記錄系統(tǒng)連續(xù)工作10小時的數(shù)據(jù),圖5.2為OCXO的頻率準(zhǔn)確度隨時間的變化曲線。

從圖5.2中可以看出,鎖定后OCXO晶振的頻率值在標(biāo)稱頻率上下起伏,最大起伏約為9.0×10-11。通過計算,圖5.2中所顯示的頻率平均準(zhǔn)確度達(dá)到73×10-12,相對于所采用晶體振蕩器的約5×10-10/d的老化率有明顯改進(jìn),同時也說明晶振頻率的漂移得到了一定程度的修正。
在進(jìn)行頻率穩(wěn)定度測試時,由于實驗室測頻儀器測量的分辨率的有限,ls和10s的穩(wěn)定度由直接測頻法計算得到,而100s、1000s、5000s和10000S由比相間接測頻法計算得到,相位比對數(shù)據(jù)采用上面圖5.2中所采集的數(shù)據(jù)。鎖定后, 進(jìn)口有源晶振(OCXO)的頻率穩(wěn)定度測試結(jié)果如表5.1所示:

從表51中可以看出,鎖定后的恒溫晶振的短期穩(wěn)定度基本保持了其本身的指標(biāo),而其中長期穩(wěn)定度不是非常理想,這是由lPPS中存在的中長期相位漂移以及Kalman濾波和PID控制參數(shù)還不是很合理造成的,但總體較其本身指標(biāo),有一定程度的提高。因此,后續(xù)工作需要增大濾波時間常數(shù),進(jìn)一步繼續(xù)優(yōu)化Kalman濾波和PID控制模型的參數(shù),使得Kalman濾波的收斂值更小,對OCXO頻率的調(diào)整幅度和頻度更低。

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