當(dāng)前位置：首頁 » 技術(shù)支持 » 常規(guī)溫度狀態(tài)下晶振可推測的穩(wěn)定性及測量儀器

常規(guī)溫度狀態(tài)下晶振可推測的穩(wěn)定性及測量儀器

來源：金洛鑫瀏覽：- 發(fā)布日期：2017-12-21 17:29:05【大中小】

分享到：

業(yè)內(nèi)的人都知道，晶振的溫度范圍是一個很重要的參數(shù)，不同的晶振可支持的溫度也不一樣，測試時如果超過晶體本身可承受的最高溫度，那么這顆貼片晶振或者插件晶振很可能會不起振。通常SMD晶體要比DIP插件更耐高溫，所以現(xiàn)在圓柱晶振和49S插件晶體逐漸被貼片石英晶振代替。而晶振只有在常溫的條件下，才能發(fā)揮最好的振蕩功能，常用的測量儀器設(shè)備主要有波形量測與和頻譜分析頻率響應(yīng)。以下是晶振廠家金洛鑫電子提供的晶振常溫條件下穩(wěn)定性判斷技術(shù)性資料。

一、常溫產(chǎn)品特性：
常溫產(chǎn)品特性有時也稱為室溫產(chǎn)品特性，一般是指無源晶振在環(huán)境溫度為25℃，相對濕度為50%左右時所測量出來的電性能參數(shù)，主要是頻率，電阻，激勵功率相關(guān)性及電容比等指標(biāo)。
1.1、對于一條相對成熟的生產(chǎn)線來說，貼片晶振在常溫下的頻率穩(wěn)定性一般不會出現(xiàn)問題，比較常見的是產(chǎn)品的一致性（散差），尤其是高頻的小公差產(chǎn)品一致性往往不如人意。一致性考慮是多個產(chǎn)品的頻率公差，在測試系統(tǒng)中，觀察FL的正態(tài)分布圖可以很直觀的了解產(chǎn)品的一致，也可以使用儀器測試系統(tǒng)中的CPK計算功能，通過CPK來衡量產(chǎn)品的一致性。
1.2、常溫下石英晶振的頻率主要是觀察其穩(wěn)定性與一致性。穩(wěn)定性是相對于單個產(chǎn)品而言，一方面要求產(chǎn)品在測試儀上重復(fù)測試時，頻率變化量要小，好產(chǎn)品頻率變化量可以小于±0.5ppm，與產(chǎn)品頻率高低及TS大小有關(guān)，一般情況下，頻率越高變化量越大，TS越大變化量越大，測量指標(biāo)一般是FL，若是FR則不存在TS的問題；另一方面要求產(chǎn)品在電路中工作時不出現(xiàn)頻率漂移，也就是說產(chǎn)品頻率不要跑到幾百甚至幾千ppm去，一般情況下只有高頻（27M以上）石英貼片晶振才會有這個問題，尤其是3RD產(chǎn)品。如果頻率不穩(wěn)定，偏移的幅度上百ppm或同時伴有C0偏小現(xiàn)象，應(yīng)考慮膠點是否松動。
聯(lián)系方式：
公司名：深圳市金洛鑫電子有限公司
聯(lián)系人：茹紅青
手機：13510569637
電話：0755-27837162
QQ號：657116624
微信：jinluodz
郵箱：jinluodz@163.com
地址：深圳市寶安區(qū)41區(qū)甲岸路19號
網(wǎng)址：http://www.upap-pt.com/