TDLV75差分晶振,ACT有源振蕩器,TLV752000MBXNKXXHL-PF[20MHz]晶振
頻率:12~800MHZ
尺寸:7.0*5.0mm
TDLV75差分晶振,ACT有源振蕩器,TLV752000MBXNKXXHL-PF[20MHz]晶振, ACT艾西迪晶振與Esterline研究和設計(ERD)的合作使我們能夠突破高精度貼片振蕩器技術的界限。這些突破性產品為石英晶振,差分晶振,TCXO溫補晶體振蕩器和OCXO設立了新標準,創(chuàng)造了當今市場上性能最高,最精確的振蕩器技術。
TDLV75差分晶振,ACT有源振蕩器,TLV752000MBXNKXXHL-PF[20MHz]晶振,無論您需要新技術,如M-SAC增強型振蕩器,還是簡單的基本石英晶振,艾西迪晶振的工程團隊都將幫助您為您的應用選擇合適的解決方案,并在整個設計周期和生產過程中為您提供支持。憑借30多年的頻率控制專業(yè)知識,我們很高興能夠應對您的設計挑戰(zhàn)和產品需求。
TDLV75差分晶振,ACT有源振蕩器,TLV752000MBXNKXXHL-PF[20MHz]晶振,小型SMD有源晶振,從最初超大體積到現在的7050mm,6035mm,5032mm,3225mm,2520mm體積,有著翻天覆地的改變,體積的變小也使產品帶來了更高的穩(wěn)定性能,接縫密封石英晶體振蕩器,精度高,覆蓋頻率范圍寬的特點,SMD高速自動安裝和高溫回流焊設計,Optionable待機輸出三態(tài)輸出功能,電源電壓范圍:1.8V~5V,高穩(wěn)定性,低抖動,低功耗,主要應用領域:無線通訊,高端智能手機,平板筆記本WLAN,藍牙,數碼相機,DSL和其他IT產品的晶振應用,三態(tài)功能,PC和LCDM等高端數碼領域,符合RoHS/無鉛.
貼片晶振晶片邊緣處理技術:貼片晶振是晶片通過滾筒倒邊,主要是為了去除晶振晶片的邊緣效應,在實際操作中機器運動方式設計、滾筒的曲率半徑、滾筒的長短、使用的研磨砂的型號、多少、填充物種類及多少等各項設計必須合理,有一項不完善都會使SMD晶振晶片的邊緣效應不能去除,而石英晶振晶片的諧振電阻過大,用在電路中Q值過小,從而電路不能振動或振動了不穩(wěn)定。
Parameters | Specification | Remarks | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Frequency range | F_nom | 12.0MHz ~ 800.0MHz | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Supply voltage | Vcc | 3.3V | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Initial frequency tolerance | F_tol | <±2.0ppm | At +25°C±2°C | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Frequency stability | vs Temperature | F_stb | ±1.0ppm ~ ±5.0ppm | Table 1 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
vs Load | F_load | ±0.3ppm max | ±10% load condition change | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
vs Voltage | F_Vcc | ±0.3ppm max | ±5% input voltage change | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
vs Aging | F_age | ±1.0ppm/year max | At +25°C | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
vs Reflow | ±1.0ppm/year max | 1 reflow and measured after 24hrs | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Operating temperature range (°C) | Topr | 0°C ~ +50°C to ‐40°C ~ +85°C | Table 1 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Storage temperature (°C) | Tstg | ‐55°C ~ +125°C | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Output waveform / Output load | LVDS square wave/50? from each load | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Output voltage high | Voh | 1.4V typical ; 1.6V min | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Output voltage low | Vol | 0.9V min ; 1.1V max | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Output differential voltage | Vod | 247mV min ; 355mV typical ; 454mV max | Output 1 ‐ Output 2 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Output differential voltage error | Dvod | ‐50mV min ; 50mV max | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Output offset voltage | Vos | 1.125V min ; 1.2V typical ; 1.375V max | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Output offset magnitude error | Dvos | 0mV min ; 3mV typical ; 25mV max | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Current consumption | Icc | 12~24MHz : 33mA max ; 24~96MHz : 50mA | Max current measured with load | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
96~700MHz : 85mA | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Rise and fall time | Tr, Tf | 1.5ns max | 20% to 80% of wave form. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Duty cycle | SYM | 45%/55% | Measured at 1.25V | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Start‐ up time | T_str | 5.0m sec (typical), 10.0m sec. (Max) | Reach 90% amplitude at +25°C±2°C | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Phase jitter (RMS) (12kHz to 20MHz) | 2.6ps (typical) , 4.0ps (max) | For frequency 155.520MHz | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Tristate | Pin 2 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
VC‐TCXO option only | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Control voltage | Vc | 1.5V ± 1.0V | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Frequency tuning (ppm) | ±5.0ppm min | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Linearity/Slope polarity | 6.0% typical;10%max/Positive slope | Positive voltage for positive frequency shift |
抗沖擊
晶振可能會在某些條件下受到損壞。例如從桌上跌落或在貼裝過程中受到沖擊。如果產品已受過沖擊請勿使用。
暴露于輻射環(huán)境會導致石英貼片晶振晶體性能受到損害,因此應避免照射。
化學制劑/pH值環(huán)境
請勿在PH值范圍可能導致腐蝕或溶解晶振或包裝材料的環(huán)境下使用或儲藏這些產品。
粘合劑
請勿使用可能導致SMD晶振所用的封裝材料,終端,組件,玻璃材料以及氣相沉積材料等受到腐蝕的膠粘劑。 (比如,氯基膠粘劑可能腐蝕一個晶體單元的金屬“蓋”,從而破壞密封質量,降低性能。)TDLV75差分晶振,ACT有源振蕩器,TLV752000MBXNKXXHL-PF[20MHz]晶振.
鹵化合物
請勿在鹵素氣體環(huán)境下使用貼片石英晶振。即使少量的鹵素氣體,比如在空氣中的氯氣內或封裝所用金屬部件內,都可能產生腐蝕。同時,請勿使用任何會釋放出鹵素氣體的樹脂。
靜電
過高的靜電可能會損壞進口有源晶振,請注意抗靜電條件。請為容器和封裝材料選擇導電材料。在處理的時候,請使用電焊槍和無高電壓泄漏的測量電路,并進行接地操作。
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